CMI-760 도금두께측정기는 와전류방식 프로브와 마그네틱인덕션 프로브를 탑재하여 사용자의 다양한 요구에 따라 범용적으로 사용이 가능합니다.
와전류방식 프로브 및 자기유도프로브 모두 작고, 심플한 외관으로 디자인하였으며, 높은 수준의 정밀성으로 기계적-전기적으로 설계-제조되어 뛰어난 측정 정밀성을 자랑합니다.
코팅성분, 두께측정범위, 제품사이즈, 형상 등 사용자의 사용조건에 적합한 프로브를 선택하여 측정할 수 있습니다.
Tset fol, Laminate, Surface, Traces and Thtu-Hole copper with single device
시험용 박막두께측정 | test foil Cu |
적충동박두께측정 | laminated Cu |
표면처리동두께측정 | Cu plated |
동도금라인추적(Traces) | Copper trace |
쓰루홀(PTH:Plating Thru-hole) | 동도금두께측정 |
CMI-760 동도금두께측정기는 연장 케이블 형식의 SRP-4 프로브와 교환가능한 팁을 기본으로 제공하여, 사용의 편리할 뿐만 아니라 비용을 줄일 수 있습니다.
SRP-4 프로브는 4-핀으로 구성되어 있으며, 특허 받은 디자인으로 밀봉되어 고장이나 마모없이 오래 사용할 수 있는 내구성을 자랑합니다. 투명한 케이스로 제작된 프로브팁은 작은 샘플까지도 정확히 측정위치에 프로브를 위치시킬 수 있습니다. 연장 케이블은 실제 현장에서의 동도금두께를 측정하는데 있어서 한층 더 편리하게 사용할 수 있습니다.
동도금두께측정 프로브 및 교체 팁
항목 | 규격 |
---|---|
제품사이즈 | 29.21cm(W) x 26.67cm(D) x 13.97(H) 11.5"(W) x 10.5"(D) x 5.5"(H) |
무게 | 6Lbs.(2.79kg) |
측정단위 | mils, um, uin, mm, in, % 화면표시 및 선택가능 |
디스플레이 | 대화면 LCD, 480 x 32 픽셀, 백라이트, 와이드앵글뷰 |
통계데이터 화면표시 | 측정값, 표준편차, 평균값, 최대값, 최소값 |
그래프 | 히스토그램, 꺽은선추세그래프, X바, R-바 차트 |
SRP-4 PROBE | |
측정정확도 | +/-1% (+/-0.1um) 표준시편(CRM) 정밀성에 따름 |
측정정밀성 | 무전해동도금(Cu): 0.2% 전기동도금(전착Cu): 0.3% |
분해능 | 0.1um (10um이상), 0.01um (10um이하~1um이상) 0.001um (1um이하) |
ETP PROBE | |
측정정확도 | +/-0.01mil 0.25um) < 1mil (25um) |
측정정밀성 | 1.0% (1.2mils 측정시) |
분해능 | 0.01mils (0.25um이상) |
와전류방식 두께측정범위 | 1~102um(0.08~4.0mils) |
측정가능 최소홀 사이즈 | 899um (35mils) |